El Centre DIOPMA col·labora amb les empreses buscant solucions a cada problemàtica particular, oferint els següents serveis:

• Disseny i caracterització de materials metàl·lics, ceràmics, polimèrics i compostos.

      - Recerca de nous materials.

      - Assaigs mecànics a escala macro, micro i nanométrica.

      - Caracterització estructural

      - Caracterització física i química.

• Projectes de Recerca, Desenvolupament i innovació tecnològica (I+D+i).

      - Recerca fonamental, aplicada, desenvolupament i innovació.

      - Transferència de tecnologia.

      - Projectes competitius.

• Estudis bibliogràfics sobre patents i normatives.
• Assessoria i consultoria tècnica.
• Formació especialitzada a empreses.


TÈCNIQUES UTILITZADES DISPONIBLES Centre DIOPMA

• Caracterització de propietats mecàniques.

      - Assajos de tracció/compressió.

      - Assajos de flexió.

      - Assajos de duresa (escala macro, micro i nanomètrica).

 •    Altres

      - Forns d’inducció.

      - Termobalança per anàlisi gravimètrica (TGA).

      - Determinació de la demanda química del oxigen (DQO).

      - Determinació d’humitat.

      - Determinació del pH. 

      - Conductímetre.

      - Lixiviador.

      - Floculador.

      - Bany termostatitzat.

      - Espectrofotòmetre UV-VIS.

      - Determinació de l’Índex d’oxigen (LOI)

d’acord amb les normes ASTM D 2863 (1970) o ISO 4589(1984).

TÈCNIQUES UTILITZADES DISPONIBLES Serveis Científico-Tècnics (UB)

 •  Tècniques d’anàlisi elemental i molecular.

      - Absorció atòmica.

      - Cromatografia de gases.

      - Cromatografia de líquids i electroforesis capil·lar.

      - Fluorescència de rajos X.

      - ICP-MS I ICP-OES.

      - Cromatografia de permeabilitat de gel (GPC).

      - Cromatografia de exclusió de tamany (SEC).

      - Anàlisis de residus i aigües.

•  Tècniques d’anàlisi i caracterització de superfícies.

      - Espectrometria de fotoelectrons (ESCA o XPS).

      - Espectrometria d’ electrons Auger (SAM).

      - Microscòpia electrònica de rastreig (SEM).

      - Microscòpia electrònica de transmissió (TEM).

      - Microscòpia electrònica de alta resolució.

      - Microsonda electrònica.

      - Microscòpia cofocal.

      - Superfície específica (BET).

      - Granulometria (tamany de partícula).

•    Tècniques nanomètriques

      - Microscòpia de forces atòmiques (AFM).

      - Microscòpia d’efecte túnel (STM).

      - Perfilometria interferomètrica.

•    Tècniques de caracterització de materials.

      - Difracció de raigs X.

      - Caracterització de las propietats magnètiques.

      - Magnetómetre SQUID.

•    Altres.

       - Anàlisis i tractament d’imatges